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        太陽能教學(xué)實驗臺中關(guān)于硅材料檢測測試平臺

        2014-10-28 [2096]

         我司的太陽能教學(xué)實驗臺當(dāng)中,有專業(yè)進(jìn)行硅材料檢測方面的試驗臺??梢杂糜诠璨牧蠙z測的一些實訓(xùn)項目,可以用于一些硅材料技術(shù)、光伏材料加工及應(yīng)用技術(shù)專業(yè),此太陽能教學(xué)實驗臺設(shè)計精密,可以根據(jù)常用的一些測試項目,進(jìn)行一些硅片或則相關(guān)制品的電學(xué)性能測試,該實訓(xùn)臺可開展的實訓(xùn)項目有:

         

                 一、導(dǎo)電性能測試: 

                 此太陽能教學(xué)實驗臺進(jìn)行導(dǎo)電性能測試的原理是:通過半導(dǎo)體與冷、熱探筆接觸后,由于載流子的熱運動與溫度有關(guān),熱區(qū)的載流子熱運動速度大,冷區(qū)熱運動速度小,因此在冷、熱兩端形成空穴或自由電子的濃度差,從而產(chǎn)生溫差電動勢來測量。

         

                 二、進(jìn)行四探針法測試硅單晶電阻率:

                 四探針法用針距約為1mm的四根探針同時壓在硅單晶樣品的平整表面上,利用恒流源給外面兩根探針通以電流,然后在中間兩根探針上用電位差計測量電壓降,然后根據(jù)推導(dǎo)簡化   公式,其中四根探針排列在同一條直線上,間距相等,此時探針系數(shù)就是一個常數(shù)。

         

                 在實際測量工作中,為了計算方便,常常令電流I在數(shù)值上與探針系數(shù)C相等,即I=C,于是ρ=V23,此時探針23之間測得電位差在數(shù)值上就等于樣品的電阻率。

         

                  三、少子壽命的測試:

                  太陽能教學(xué)實驗臺采用電脈沖以及光脈沖的方法,從半導(dǎo)體內(nèi)激發(fā)非平衡載流子,調(diào)節(jié)了半導(dǎo)體的體電阻,電導(dǎo)率增加,樣品的電阻減小,因此樣品上流過的高頻電流的幅值增加,通過測量體電阻或串聯(lián)電阻兩端電壓的變化規(guī)律來觀察半導(dǎo)體材料中的非平衡少數(shù)載流子的衰減規(guī)律,從而測定其壽命。

         

        聯(lián)


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